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    沖擊試樣缺口投影儀

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    沖擊試樣缺口夏比投影儀

    更新時間:2018-08-07 點擊數:2622

    一、用途與特點

        CST-50沖擊試樣缺口夏比投影儀是專用于檢查夏比V型和U型沖擊試樣缺口加工質量的專用光學儀器。
      利用光學投影方法將被測的沖擊試樣V或U型缺口標準樣板圖比對,以確定被檢測的沖擊試樣缺口加工是否合格,操作簡便,檢查對比直觀、效率高,是目前唯一切實可行、并能保證檢查質量的方法,是相關理化試驗室的必備儀器。

         我們根據目前國內廣大用戶的實際需求和GB/T229-2007《金屬夏比擺錘沖擊試驗方法》中沖擊試樣缺口的要求而設計、開發的一種專用于檢查夏比V型和U型沖擊試樣缺口加工質量的專用光學儀器,該儀器是利用光學投影方法將被測的沖擊試樣V或U型缺口輪廓放大投射到投影屏上,與投影屏上沖擊試樣V和U型缺口標準樣板圖比對,以確定被檢測的沖擊試樣缺口加工是否合格,其優點是操作簡便,檢查對比直觀,效率高。

    二、主要技術參數:

    1. 放大倍數:50×;
    2. 投影屏尺寸:ф200mm;
    3. 工作臺位移:縱向±10mm,橫向±10mm,升降±12mm(無刻度);
    4. 工作臺轉動范圍:0~360о(無刻度);
    5. 光源:鹵鎢燈12V 100W;
    6. 電源:200V 50HZ 150W;
    7. 外形尺寸:515×224×603mm;
    8. 重量: 約18kg。



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